本实用新型公开了一种高速测试分选装置，转塔支撑立臂上端设有横向联接立臂，横向联接立臂左下端设有电气转换系统，电气转换系统下端设有独立下压机构，独立下压机构下端设有真空分配机构，真空分配机构下端设有取料吸嘴机构，取料吸嘴机构下端设有DDR电机系统，DDR电机系统下端设有设备工台板，设备工台板下端设有设备电气机柜，本实用新型能够满足现代工厂高产能、高质量的生产需求，采用了先进的DDR电机与实时控制系统，以及合理的机构设计与工序分布，实现对半导体分立器高速高性能的电性测试、外观检测、激光打标、分选分类、编带封装等，设备运行速度高且故障率低，以及便捷因生产需要对产品类型变更转换。
公开（公告）号 CN209953293U
